對(duì)于故障檢測(cè)過(guò)程中的一些技術(shù)問(wèn)題，非破壞性超聲波探傷設(shè)備的制造廠家，例如專(zhuān)業(yè)超聲波探傷設(shè)備，仍然存在于室溫下熔化的柱狀晶粒，該柱狀晶體的晶粒較厚，結(jié)構(gòu)不均勻，各向異性柱狀晶粒的特征在于相同的晶粒尺寸并且在不同方向上測(cè)量，在這個(gè)意義上，從不同方向的檢測(cè)使衰減與信噪比不同。
當(dāng)光束與柱狀晶體之間的角度，衰減小并且信噪比相對(duì)高，當(dāng)光束垂直于柱狀晶體時(shí)，衰減很大，信噪比相對(duì)較低，聲束方向偏轉(zhuǎn)現(xiàn)象，不同部位下波幅度的差異，給超聲波檢測(cè)故障帶來(lái)了困難，因?yàn)樗鼈儨y(cè)量缺陷的長(zhǎng)度，所以靈敏度和長(zhǎng)度測(cè)量方法，是在超聲波探傷設(shè)備的靈敏度恒定的條件下探傷沿缺陷長(zhǎng)度平行移動(dòng)，當(dāng)缺陷波的高度下降到預(yù)定位置時(shí)，探傷移動(dòng)的距離是指示的缺陷長(zhǎng)度。
在探頭長(zhǎng)度測(cè)量掃描期間，如果缺陷反射峰發(fā)生變化，比如超聲波探傷設(shè)備的使用，探頭在兩端反射的波的大值之間的長(zhǎng)度可能會(huì)丟失，以確定長(zhǎng)度缺陷指示，稱(chēng)為端點(diǎn)峰值方法，通過(guò)峰值法測(cè)量的缺陷長(zhǎng)度小于通過(guò)6dB方法測(cè)量的指示長(zhǎng)度，只有在長(zhǎng)度測(cè)量掃描期間，終點(diǎn)峰值方法也是適用的。
超聲波探測(cè)法是常用于測(cè)量缺陷長(zhǎng)度的方法，它適用于在長(zhǎng)度測(cè)量過(guò)程中故障波具有高點(diǎn)的情況，當(dāng)發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí)，探傷沿缺陷方向向左和向右移動(dòng)，并且在缺陷的兩端發(fā)現(xiàn)大反射波，基于兩個(gè)端點(diǎn)的反射波的高度，移動(dòng)探傷向右移動(dòng)到左側(cè)，并且探傷的反射波的高度減半，之間的距離是指示的缺陷長(zhǎng)度。
